中科光芯申请『半导体』激光器老化检测设备及方法专利，得到更准确的老化程度检测结果(中科光芯ipo)

国家知识产权局信息显示，深圳市中科光芯『半导体』科技有限公司申请一项名为“一种『半导体』激光器的老化检测设备及检测方法”的专利，公开号CN121208572A，申请日期为2025年10月。

专利摘要显示，本发明涉及『半导体』激光器检测技术领域，具体涉及一种『半导体』激光器的老化检测设备及检测方法。该设备包括个体分析模块，用于分析『半导体』激光器的温度出现异常的次数以及温度出现波动的不稳定特性，确定温度变化异常性；整体分析模块，用于根据目标『半导体』激光器与其他『半导体』激光器之间的温度与温度变化异常性，确定温度变化差异度；初始确定模块，用于结合温度变化差异度、目标『半导体』激光器与其他『半导体』激光器之间的位置关系，确定『半导体』激光器的热耦合程度；老化确定模块，用于基于热耦合程度和检测数据，确定所述『半导体』激光器的综合老化程度。本发明减缓了不同『半导体』激光器之间的热耦合影响，得到了更准确的老化程度检测结果。

天眼查资料显示，深圳市中科光芯『半导体』科技有限公司，成立于2026年，位于深圳市，是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本1504.43809万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳市中科光芯『半导体』科技有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目1次，财产线索方面有商标™️信息16条，专利信息65条，此外企业还拥有行政许可12个。

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